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半導體器件X射線檢測設備

簡要描述:半導體器件X射線檢測設備AX8200是日聯在2010年年末應廣大客戶的需求推出的大容量高分辨率高放大倍率的全新X-RAY檢測系統。良好的檢測效果適用于大型線路板上面的BGA、CSP、倒裝芯片檢測、半導體、封裝元器件、電子連接器模組檢測、印刷電路板焊點檢測、陶瓷制品、太陽能電池板電池行業等特殊行業檢測。

  • 產品型號:AX8200
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-08-19
  • 訪  問  量:849
詳細介紹
品牌日聯科技價格區間面議
產地類別國產應用領域醫療衛生,食品,能源,電子,交通
重量1050KG尺寸1080(W)*1180(D)*1730(H)MM
功率1.0KW最大檢測尺寸435MM*385MM

半導體器件X射線檢測設備介紹:

半導體器件X射線檢測設備日聯科技(UNICOMP),成立于2009年,是從事X射線技術研究和精密X射線檢測裝備研發制造的*企業,是國內將物聯網和“云計算"技術應用于X射線檢測領域。

芯片對于智能化的發展有著重要的影響,所有芯片的質量也一直是各大生產廠商的重視的。芯片在在封裝成形的過程中可能會出現各種缺陷問題,芯片封裝檢測也是其生產工藝只的一道工序。氣孔和空洞是芯片封裝中最常見的缺陷,這類缺陷會影響芯片的散熱和可靠性,從而導致失效。

根據氣孔在塑封體上產生的部位可以分為內部氣孔和外部氣孔。氣孔不僅嚴重影響塑封體的外觀,而且直接影響塑封器件的可靠性,尤其是內部氣孔更應重視。而內部氣孔無法直接看到,必須通過X射線檢測設備才能觀察到,這也是常用的一種芯片缺陷檢測方式。市場上要求IC 芯片空洞率要小于25%,當單個氣泡空洞的直徑接近粗鋁絲的直徑時,鍵合可能會在芯片表面產生彈坑,尤其是較薄的 IGBT 芯片。因此,功率 IC 芯片底部的空洞應盡可能低。目前前沿的芯片公司生產的芯片空洞率可以小于5%。

半導體器件X射線檢測設備

產品特點:

● 設備具備高性價比,支持靈活選配增強器和高清FPD

● 系統擁有600X放大倍率,可實現高清實時成像

● 用戶界面友好,功能多樣,支持結果圖示化

● 支持選配CNC高速跑位自動測算功能

半導體器件X射線檢測設備

產品應用:
● pcba焊點檢測(BGA 、CSP 、POP等元器件檢測)
● 電池(極片焊點缺陷檢測、電芯繞卷情況檢測)
● 電子接插件(線束、線纜、插頭等)
● 汽車電子(接插線、儀表盤等檢測)
● 太陽能、光伏(硅片焊點檢測)
● 半導體(封裝元器件檢測)
● LED檢測
● 電子模組檢測
● 陶瓷制品檢測

標準配置:
● 4/2(選配6寸)像增強器和百萬像素數字相機;
● 90KV5微米的X射線源;
● 簡單的鼠標點擊操作編寫檢測程序;
● 檢測重復精度高;
● 正負60度旋轉傾斜,允許*視角檢測樣;
● 高性能的載物臺控制;
● 超大導航視窗-容易定位和識別不良品;
● 自動BGA檢測程序準確檢測每一個BGA的氣泡,根據客戶需求進行判定并輸出Excel報表。

半導體器件X射線檢測設備


安全的檢測設備:
日聯作為一個有著高度社會責任感的X-Ray設備生產商,首要考慮的就是設備的安全性能。日聯生產的各系列的X-Ray產品都使用較厚的鉛板、鉛玻璃以及含鉛橡膠,使得產品的X射線量幾乎等同于自然界中的輻射量,也*符合FDA認證標準。


半導體器件X射線檢測設備



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